ŹRÓDŁA ŚWIATŁA
Moduł OPO (Optical Parametric Oscillator) – system bazujący na optycznym oscylatorze parametrycznym
zakres spektralny
625 – 2000 cm-1
2350 – 4450 cm-1
4950 – 7140 cm-1
długość impulsu
ok. 10 ps
szerokość spektralna impulsu
<4 cm-1
częstość repetycji impulsu
<50 MHz
współpracujące moduły detekcji
AFM-IR
sSNOM
Moduł QCL (Quantum Cascade Laser) – bazujący na 4 chipach, emitujących impulsowe światło dla centralnych długości fal 11,4 µm, 8,4 µm, 6,2 µm oraz 3,6 µm
zakres spektralny
650 – 1800 cm-1
2700 – 3000 cm-1
współpracujące moduły detekcji
AFM-IR
Lasery diodowe
długości fali
532 nm
633 nm
współpracujące moduły detekcji
sSNOM w zakresie widzialnym
TERS
Raman
fotoluminescencja
DETEKCJA
Raman/TERS – system detekcji Princeton Instruments bazujący na spektrometrze IsoPlane SCT320 oraz chłodzonej cieczą, ultraczułej kamerze PIXIS 100
ogniskowa spektrometru
328 mm
apertura spektrometru
F/4,1
rozdzielczość spektralna detekcji
7,5 cm-1 (dla siatki dyfrakcyjnej 300 l/mm)
3,7 cm-1 (dla siatki dyfrakcyjnej 600 l/mm)
1 cm-1 (dla siatki dyfrakcyjnej 1800 l/mm)
Detekcja IR – detekcja światła podczerwonego wykonywana jest przez chłodzony ciekłym azotem detektor ołowiowo-kadmowo-tellurowy (HgCdTe, z ang. MCT) firmy InfraRed Associates
zakres detekcji
2 – 16 µm
Detekcja VIS – detekcja fotoluminescencji oraz światła rozproszonego
zakres detekcji
300 – 1050 nm
Mikroskopia AFM-IR
zakres ruchu stolika na próbki (x, y, z)
40 × 50 × 15 mm
maksymalny obszar skanowania (x, y)
100 × 100 µm
zakres skanera (z)
8 µm
moduł kontroli polaryzacji światła
polaryzacja s oraz p
Mikroskopia sSNOM/TERS
wymiary stolika na próbki (x, y, z)
40 × 50 × 15 mm
maksymalny obszar skanowania (x, y)
100 × 100 µm
zakres skanera (z)
2,5 µm